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Nuestra
Productos

Cuchillas de corte de precisión, almohadillas de pulido sin cera y CMP
lodos diseñados para semiconductores estables y de alto rendimiento
procesos.

ACERCA DE
US

A partir de

1997

Lechadas de pulido avanzadas - Almohadillas de pulido de alto rendimiento - Cuchillas para semiconductores
Soluciones de ingeniería para la fabricación de obleas, componentes ópticos y procesamiento de materiales de precisión.

company

100+

Empleado

24h

Respuesta eficaz

28 años

Experiencia en el sector

1500+

Cliente

25 años de dedicación, líder en la industria del pulido

Nuestra
Ventajas tecnológicas

La fabricación avanzada y el estricto control de calidad garantizan
rendimiento constante en aplicaciones exigentes.

Alta
índice de pulido

Gran rendimiento de corte, mejora de la eficacia de pulido

Bien
efecto pulido

Buena dispersión con emulsión uniforme, mejorando la precisión del pulido

Seguridad y
protección del medio ambiente

Sin aditivos de azufre, fósforo ni cloro, con un rendimiento estable y sin contaminación ambiental.

Ancho
campo de aplicación

Aplicable a metales, optoelectrónica, semiconductores, discos duros, pantallas, cerámica e industrias afines.

Nuestra
Solución

Soluciones orientadas a la aplicación para corte en cubos, pulido y CMP
procesos a través de diferentes materiales.

  • Schematic diagram of CMP polishing workbench

    CMP (Chemical Mechanical Polishing) is currently the only technology used in modern industrial manufacturing for surface polishing of workpieces and global planarization of wafer surfaces in integrated circuit manufacturing. The ...

Nuestra
Equipos de producción

Los equipos de producción especializados permiten una alta precisión
fabricación y una consistencia fiable del producto.

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NOTICIAS

Actualizaciones de productos, conocimientos técnicos y noticias del sector de
corte y pulido de semiconductores.

  • PREGUNTAS FRECUENTES (FAQS)

¿Cómo se evalúa la vida útil de las almohadillas de acabado? ¿Cuáles son los indicadores de alerta para su sustitución?2025-12-12T16:51:06+08:00

La evaluación de la vida requiere un seguimiento exhaustivo de los siguientes indicadores:

Métrica de control Rango normal Advertencia de sustitución
Cambio de la porosidad superficial Valor inicial ± 5% > ± 15%
Tasa de recuperación elástica > 92% < 85%
Coeficiente de fricción Estabilidad Fluctuación < ± 0,02 Fluctuación > ± 0,05
Tasa de consumo de lodo Línea de base ± 10% Aumento > 25%

Solución de supervisión inteligente: Ofrecemos almohadillas sensoras integradas opcionales que transmiten datos de presión/temperatura en tiempo real a los sistemas MES del cliente. Se recomienda realizar un análisis topográfico profesional de la superficie cada 500 ciclos de pulido.

¿Qué propiedades especiales requieren las almohadillas de acabado cuando se procesan materiales semiconductores de tercera generación como el nitruro de galio (GaN)?2025-12-12T16:43:41+08:00

Deben cumplirse tres requisitos especiales:

  • Pulido de bajo esfuerzo: El módulo elástico del sustrato debe coincidir con la naturaleza frágil del GaN (resistencia a la fractura < 2 MPa-m¹/²) para evitar microfisuras.

  • Resistencia a entornos fuertemente alcalinos: El poliuretano modificado con PTFE permite un funcionamiento estable > 200 horas en lodos a base de KOH con pH > 12

  • Gestión térmica mejorada: Conductividad térmica > 0,5 W/m-K para una rápida disipación del calor de fricción localizado (el GaN es sensible a la temperatura).
    Jizhi Electronics’ Serie de pastillas específicas para GaN se ha validado en la producción en serie de obleas de 6 pulgadas, con un control del alabeo < 50 µm.

¿Cómo se puede cuantificar la mejora en la uniformidad del pulido tras utilizar sus almohadillas de acabado?2025-12-12T16:42:31+08:00

La mejora puede cuantificarse a través de tres indicadores clave:

  1. Mejora de TTV: El diseño patentado de la capa elástica porosa controla la variación del grosor total de la oblea a < 0,3 µm (mejora de 40% respecto a los pads convencionales).

  2. Uniformidad de la tasa de eliminación: La tecnología de microcanales mejora la no uniformidad dentro de la oblea (WIWNU) hasta > 95%

  3. Control de defectos: La estructura flexible de la superficie de la fibra reduce la densidad de defectos por arañazos a < 0,05 cuentas/cm².
    Ofrecemos servicios gratuitos de auditoría de procesos proporcionar a los clientes informes comparativos.

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