先端半導体製造用銅CMPスラリー
目次 1. 銅 CMP の紹介 2. BEOL 統合における銅 CMP スラリーの役割 3.化学的・機械的除去メカニズム 4.銅CMPスラリーの組成構造 5.二段階銅CMPスラリーシステム 6.主要エンジニアリングパラメーターとデータ範囲 7.プロセスウィンドウとコントロールマップ 8.欠陥メカニズムと根本原因分析 9. 大量生産(HVM)の課題 10.スラリーの選択と最適化ガイドライン 11.銅CMPスラリーの今後の動向 1.銅CMPの紹介 銅はアルミニウムに比べて抵抗率が低く、エレクトロマイグレーション耐性に優れているため、先端半導体デバイスの配線材料として主流となっている。.